5.4 PCIe——硅后测试
芯片流片完成后需要上板进行测试,考虑到PCIe高速协议的复杂性,需要采用一系列手段对信号质量进行测试,以确保误码率在一定范围内,从而不会引起通信错误。
芯片流片完成后需要上板进行测试,考虑到PCIe高速协议的复杂性,需要采用一系列手段对信号质量进行测试,以确保误码率在一定范围内,从而不会引起通信错误。
一、概述
1.1 信号质量影响因素
信号在板级链路上传输时会收到以下破坏性的影响:
- 可预知的抖动,有链路发送线路引发
- 由链路上的动态数据模式引起的数据相关抖动
- 感知到信号对中的噪声
- 发送线路的阻抗导致的信号衰减
测试设备
负责设备测试的公司:百佳泰
测试夹具
测试平台
-
练习器
链接:是德U4305B PCIe练习器 -
示波器
看到模拟量,时序抖动、欲加重
数据链路和TL的抓包和分析,存储深度有限(几十ms的幅度)
参考链接:详解PCIE3.0 system board Tx信号测试连接-手动切换码型 -
协议分析仪
可以观察到DLL,TL层的报文,128GB的存储深度,状态机触发
不能看到模拟量的变化,比如欲加重、EQ的调整等
不能模拟触发
参考链接:PCIe协议分析仪
二、测试内容
2.1 PCIe协议一致性兼容测试
参考时钟测试
测试内容包括
- DUT打开/关闭SSC测试
- SRIS enable/disable
均衡参数等级测试
对Preset参数进行测试,PCIe定义了多组preset参数,测试通过一组即符合PCIe规范。
5GT/s场景下preshoot
- -3.5 dB
- -6.0 dB
power等级
- full swing
- reduced swing
2.2 眼图质量测试
三、测试步骤
keySight PCIe gen4 测试参考链接:
PCIe4.0板卡的Tx信号质量测试连接
PCIe4.0插卡的信号质量测试指南
详解PCIE3.0 system board Tx信号测试连接-手动切换码型
PCIE3.0 system board Tx信号实测-手动切换码型
PCIE3.0 system Board Tx信号实测_AFG自动切换码型
详解PCIE4.0 System board Tx信号测试连接-手动切换码型
PCIE4.0 System-board Tx信号实测-自动切换码型
详解PCIE3.0 Add-in-Card Tx信号测试连接-手动切换码型
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