储能BMS的AFE芯片,在PACK包打绝缘耐压时,炸了!?
摘要:液冷52串电池包在4380V耐压测试时出现AFE芯片损坏问题。经排查发现,问题源于采样线分叉点绝缘不足导致对机壳地放电。故障复现确认绝缘失效点位于线束分叉处。对策包括:1)测试时断开BMU连接器;2)加强绝缘处理,将花缠改为全缠;3)更新CCS图纸规范线束工艺。该问题揭示了高压回路绝缘设计的重要性,需从工艺和设计两方面进行改进。(149字)
一、问题来源
最近生产线在对液冷52串的pack包打4380V的直流耐压时,偶尔有那么一两个包打不过,并且还能听见“啪”的一声,把从控板拆下来,发现里面的AFE的芯片已损坏。外观是这样:

并且,一块板子上有些时候不止坏一颗,两颗三颗的都有,但都集中在靠近最低电芯的那一侧。
二、问题定位
这种情况只出现在打绝缘耐压的时候,所以可以确定的是:在打绝缘耐压时某个地方发生绝缘失效了,并且大电流路径一定经过了AFE内,所以才会导致AFE损毁的。
先排查从控板的问题:
不管是打坏的板子,还是正常的板子,低压端和高压端都能抗住6000V以上的直流耐压,漏电流小于10mA,这完全符合GB/T34131对BMS的绝缘耐压等级要求。那就重点关注液冷PACK包内,有哪些可能的点会导致绝缘失效。
先补充个知识点:PACK打耐压的电压等级是4380V,漏电流检测标准是小于10mA。在PACK正极对机壳地与负极对机壳地之间各打一次(参照标准GB/T36276)。
接着刚才的话题:有哪些可能的点会导致绝缘失效,我能想到的如下方面:
a.电芯模组到外壳(金属外壳)绝缘出问题。电芯和底板之间,电芯和钢带之间。
b.连接电芯的采集线到外壳(金属外壳)绝缘出问题。
c.其它连接器部件到外壳(金属外壳)绝缘出问题。
如图所示:

图1 PACK结构简图
从pack包的结构,线束布局方面开始分析。电池包内部的模组,近似的模型如图1,模组的外壳与PACK外壳(机壳地)相连, 在模组内部,每一节电芯其实与模组外壳是有一个寄生电容的,模组之间与外壳(机壳地)是有绝缘电阻的,而这就是漏电流的路径(如图2); 当某一节电芯的检测线和外壳挨着很近的时候,绝缘可能就会出问题。同样的道理,采样线的外皮如果没有很好的做绝缘处理,这个问题就会很明显,特别是CCS的采集线束全部需要用绝缘胶带100%全部覆盖掉,同时还需要多缠绕几圈或套上波纹管。

图2 漏电流回路
理论成立,同时,留意到实际PACK中:
1.连接器出线端为花缠(如图3);

图3 连接器花缠
2.温度采样线是共地的,那也就是说:多根温度采样线共地的那根线最终会在CCS上汇聚成一根(也可以理解成一根地线分解成多根,看自己的理解),而这个线束分叉点用热缩套管保护,并未使用满足耐压要求的胶壳(如图4);

图4 采样线线束分叉点用热缩套管保护
那么,线束分叉点由于没有满足耐压要求的胶壳,同时又没有被绝缘胶带全部包裹,那么线束分叉点就有可能会触碰到下方的机壳地,在打耐压时可能造成绝缘失效。
现在进行实际pack内相同故障模拟。
先将一块完好的、通过测试的从控放入PACK中,在保证采样线不发生的对地绝缘失效的情况下进行绝缘耐压测试,显示测试通过。
再将机壳地与线束分叉点挨拢,使其近似连接(如图5)。模拟“采样线在高电压的情况下,对机壳地发生绝缘失效”的故障。

图5 机壳地与采样线近似连接
结果显示耐压测试不通过;同时,AFE损坏。
至此,“模组的采样线在高电压的情况下,对机壳地发生绝缘失效”的故障原因成立,并且可以确定发生绝缘失效的回路位于“采样线的线束分叉点”。
三、后续对策
短期对策和长期对策如下:
1. 建议PACK绝缘耐压测试的时候把BMU的连接器拔了,保证整个PACK的绝缘耐压能够通过没问题才安装BMU。
2.高压回路的绝缘强度需要加强。对于库存已有的CCS,在对其安装时,在连接器出线端缠绕一圈胶带,使原有的花缠改为全缠。
3.更新两种CCS的图纸,并联系线束厂家,将原有的花缠改为全缠。
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