开发工具 之八 详解 JTAG、SWD 接口
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JTAG 和 SWD 在嵌入式开发中是必须要知道的接口，用来配合 J-Link 、ULINK、ST-LINK 等仿真器在线调试嵌入式程序。此外，还有飞思卡尔芯片中的 Background debug mode（BDM） 接口，Atmel 芯片中的 debugWIRE ；Nexus 5001 论坛制定的全球嵌入式处理器调试接口标准 IEEE-ISTO 5001。
JTAG
JTAG（是制定它的工作组 Joint Test Action Group（联合测试行动小组）的缩写）是用于在制造后验证设计和测试印刷电路板的行业标准。它指定使用专用调试端口实现串行通信接口，以实现低开销访问，而无需直接从外部访问系统地址和数据总线。其相关标准于 1990 年标准化为 IEEE Std. 1149.1-1990（该标准的全称是 Test Access Port and Boundary-Scan Architecture（测试访问端口和边界扫描架构））。
联合测试行动小组成立于 1985 年，旨在开发一种在制造后验证设计和测试印刷电路板的方法。
边界扫描
JTAG 制定之初是采用边界扫描技术的一种测试印刷电路板或集成电路内子模块上的互连（电线）的方法。 边界扫描被广泛用作观察集成电路引脚状态、测量电压或分析集成电路内部子模块的调试方法。在电路板上的很多芯片可以将他们的 JTAG 引脚通过 Daisy Chain
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